因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

高嶺土白度質(zhì)量檢測(cè)體系包含以下核心指標(biāo)：

絕對(duì)白度值（ISO 2469標(biāo)準(zhǔn)）：表征材料對(duì)可見(jiàn)光全波段的反射能力

色差參數(shù)（ΔE*）：量化樣品與標(biāo)準(zhǔn)白板的顏色偏離程度

光譜反射率曲線(xiàn)（380-780nm）：分析特定波長(zhǎng)下的反射特性

明度指數(shù)（L*值）：表征材料表面亮度特征

黃度指數(shù)（YI值）：評(píng)估雜質(zhì)或鐵鈦元素導(dǎo)致的顯色偏差

檢測(cè)范圍

檢測(cè)方法

分光光度法（基準(zhǔn)方法）

采用雙光束分光光度計(jì)在D65標(biāo)準(zhǔn)光源下進(jìn)行測(cè)量：

1. 樣品制備：研磨至200目（75μm），105℃烘干至恒重

2. 壓片成型：10MPa壓力下制備φ30mm標(biāo)準(zhǔn)樣片

3. 光譜掃描：以BaSO4標(biāo)準(zhǔn)白板為參比，測(cè)量450nm特征波長(zhǎng)反射率

4. 數(shù)據(jù)處理：按CIE Lab色空間計(jì)算白度值W=Y+800(xn-x)+1700(yn-y)

積分球法（快速測(cè)定）

儀器預(yù)熱：確保積分球內(nèi)部溫度穩(wěn)定在23±1℃

零點(diǎn)校準(zhǔn)：使用黑腔體消除環(huán)境光干擾

標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)：NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)白板三點(diǎn)校準(zhǔn)

樣品測(cè)量：多點(diǎn)采樣取平均值降低表面紋理影響

結(jié)果修正：根據(jù)ASTM E308進(jìn)行熒光效應(yīng)補(bǔ)償計(jì)算

檢測(cè)儀器

分光測(cè)色儀（Class AA級(jí)）

- 波長(zhǎng)范圍：360-750nm

- 分辨率：10nm

- 重復(fù)性：ΔE*ab≤0.08

- 符合ISO 7724-3規(guī)范要求

全自動(dòng)白度計(jì)（積分球型）

- 測(cè)量孔徑：Φ25mm/Φ10mm可切換

- 光源系統(tǒng)：脈沖氙燈+濾光片組

- 探測(cè)器：硅光電二極管陣列

- 滿(mǎn)足GB/T 3979色度測(cè)量要求

激光粒度-白度聯(lián)用儀

- 同步測(cè)定粒徑分布與表面白度

- Mie散射理論修正粒度影響

- D50與W值相關(guān)性分析模塊

- JIS K5101兼容設(shè)計(jì)

高溫煅燒白度測(cè)試系統(tǒng)

- RT-1300℃程序控溫煅燒

- N?保護(hù)氣氛下在線(xiàn)測(cè)量

- X射線(xiàn)衍射同步分析晶相轉(zhuǎn)變

- GB/T 14563配套設(shè)備認(rèn)證

便攜式現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)儀

- IP65防護(hù)等級(jí)

- GPS定位數(shù)據(jù)綁定

- ASTM D985現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試規(guī)程支持

- SD卡存儲(chǔ)5000組數(shù)據(jù)容量

輔助設(shè)備配置要求

標(biāo)準(zhǔn)光源箱：配備D50/D65/F11三光源系統(tǒng)

恒溫恒濕箱：溫度控制±0.5℃，濕度±2%RH穩(wěn)定性

真空壓片機(jī)：10-30MPa可調(diào)壓力范圍

標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)組：NIST SRM系列認(rèn)證標(biāo)樣（含溯源證書(shū)）

儀器維護(hù)規(guī)范要點(diǎn)

積分球內(nèi)壁每500小時(shí)更換硫酸鋇涂層

檢測(cè)流程

1、咨詢(xún)：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件