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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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成分分析,配方還原,食品檢測,藥品檢測,化妝品檢測,環(huán)境檢測,性能檢測,耐熱性檢測,安全性能檢測,水質(zhì)檢測,氣體檢測,工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測,橡膠檢測,金屬元素檢測,礦石檢測,有毒有害檢測,土壤檢測,msds報告編寫等。
發(fā)布時間:2025-05-08
關(guān)鍵詞:表面粗糙度Ra值試驗儀器,表面粗糙度Ra值檢測周期,表面粗糙度Ra值檢測標準
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來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
表面粗糙度Ra(輪廓算術(shù)平均偏差)是表征加工表面微觀不平度的核心指標,定義為在取樣長度內(nèi)輪廓偏距絕對值的算術(shù)平均值。其量綱單位為微米(μm),數(shù)值越小代表表面越光滑。根據(jù)ISO 4288標準要求,完整檢測需同步記錄評估長度、濾波波長等參數(shù)。特殊工況下需補充測量Rz(最大高度粗糙度)、Rq(均方根粗糙度)等輔助參數(shù)。
本檢測適用于金屬材料(包括鑄鐵、鋁合金、鈦合金等)、工程塑料及陶瓷基復(fù)合材料的加工表面評估。典型應(yīng)用場景包括:機械傳動部件的軸頸配合面(Ra 0.4-1.6μm)、液壓密封件的端面(Ra 0.1-0.4μm)、光學(xué)鏡片的拋光面(Ra<0.01μm)。特殊行業(yè)如航空航天領(lǐng)域渦輪葉片需執(zhí)行Ra 0.05μm級超精密檢測。
接觸式測量采用金剛石探針輪廓儀,探針曲率半徑2μm±0.5μm,測量力控制在0.75mN-4mN范圍內(nèi)。非接觸式測量選用白光干涉儀或激光共聚焦顯微鏡,適用于軟質(zhì)材料或納米級表面分析?,F(xiàn)場快速檢測可使用便攜式粗糙度儀,其內(nèi)置符合ISO標準的RC/PC/Gauss濾波算法。
預(yù)處理:使用丙酮超聲清洗被測表面15分鐘
定位:在垂直于加工紋理方向布置測量軌跡
參數(shù)設(shè)定:依據(jù)GB/T 6062選擇λs/λc濾波波長
數(shù)據(jù)采集:單點測量重復(fù)次數(shù)≥5次
結(jié)果處理:按ISO 4288剔除異常值后取算術(shù)平均
儀器類型 | 分辨率 | 量程范圍 | 適用標準 |
---|---|---|---|
觸針式輪廓儀 | 1nm | Ra 0.01-10μm | ISO 3274 |
激光掃描顯微鏡 | 0.1nm | Ra 0.001-100μm | ASME B46.1 |
白光干涉儀 | 0.01nm | Ra 0.0005-50μm | ASTM E2245 |
便攜粗糙度儀 | 10nm | Ra 0.05-12.5μm | DIN EN ISO 5436-1 |
高精度輪廓儀需定期通過階梯高度標準片進行校準驗證,標準片等級應(yīng)滿足JJF 1105規(guī)程的λ級要求。測量環(huán)境溫度應(yīng)穩(wěn)定在20±1℃,振動幅度控制在<0.5μm/s2。
探針磨損量超過標稱曲率半徑10%時應(yīng)更換針尖
測量速度與截止波長的匹配關(guān)系校驗
工件裝夾導(dǎo)致的表面變形誤差補償
環(huán)境溫濕度變化引起的熱膨脹修正
針對異形曲面測量需采用五軸聯(lián)動測頭系統(tǒng),通過法向跟蹤技術(shù)保證探針始終垂直被測表面。對于微結(jié)構(gòu)陣列表面(如衍射光學(xué)元件),應(yīng)采用區(qū)域掃描模式獲取三維粗糙度參數(shù)Sa值。
最終檢測報告應(yīng)包含原始輪廓曲線圖、濾波參數(shù)設(shè)置記錄、測量位置示意圖及不確定度分析表。數(shù)據(jù)存檔需符合ISO/IEC 17025對技術(shù)記錄的保存要求。
1、咨詢:提品資料(說明書、規(guī)格書等)
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3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
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5、收到樣品,安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報告草件,確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件