因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

光學(xué)元件質(zhì)量評(píng)價(jià)體系包含四大核心指標(biāo)：

表面質(zhì)量：涵蓋劃痕/麻點(diǎn)（MIL-PRF-13830B標(biāo)準(zhǔn)）、表面粗糙度（Ra≤5nm）、清潔度等級(jí)（ISO 10110-5）

光學(xué)性能：透射率/反射率偏差（±0.5%）、波前畸變（λ/10@632.8nm）、偏振特性（消光比≥1000:1）

幾何參數(shù)：曲率半徑公差（±0.1%）、中心厚度偏差（±10μm）、面形精度（PV≤λ/4）

環(huán)境可靠性：溫度循環(huán)（-40℃~+85℃×5次）、濕熱試驗(yàn)（85%RH×240h）、機(jī)械振動(dòng)（20g@50-2000Hz）

檢測(cè)范圍

本檢測(cè)體系適用于以下光學(xué)組件：

基礎(chǔ)光學(xué)元件：球面/非球面透鏡、直角棱鏡、窗口片、濾光片組

精密光學(xué)器件：激光諧振腔鏡（損傷閾值≥5J/cm2）、紅外硫系玻璃透鏡（3-12μm波段）、微透鏡陣列（單元尺寸≥50μm）

功能化組件：偏振分光立方體（消光比≥30dB）、衍射光學(xué)元件（衍射效率≥85%）、超表面結(jié)構(gòu)（特征尺寸≤λ/2）

特殊應(yīng)用器件：航天級(jí)反射鏡（CTE≤5×10??/℃）、X射線聚焦鏡（表面粗糙度≤0.5nm）、光子晶體光纖端面（角度偏差≤0.5°）

檢測(cè)方法

依據(jù)ISO 10110系列標(biāo)準(zhǔn)建立分級(jí)檢測(cè)流程：

干涉測(cè)量法：采用相移干涉術(shù)測(cè)量面形誤差（4D動(dòng)態(tài)干涉儀），Zygo MetroPro軟件進(jìn)行Zernike多項(xiàng)式分解

散射光分析法：基于BSDF函數(shù)表征表面散射特性（TIS≤1%），使用CASI散射儀進(jìn)行全角度測(cè)量

分光光度法：紫外-可見-近紅外分光系統(tǒng)（波長(zhǎng)范圍190-2500nm），積分球附件測(cè)定絕對(duì)透反射率

輪廓掃描法：白光干涉輪廓儀實(shí)現(xiàn)納米級(jí)粗糙度測(cè)量（掃描長(zhǎng)度4mm×4mm），符合ISO 4287參數(shù)體系

環(huán)境模擬法：三綜合試驗(yàn)箱執(zhí)行ISTA 3A標(biāo)準(zhǔn)振動(dòng)譜型，熱真空室模擬空間環(huán)境（真空度≤1×10??Pa）

數(shù)字圖像處理法：機(jī)器視覺系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別表面缺陷（最小檢出尺寸5μm），基于深度學(xué)習(xí)算法分類瑕疵類型

檢測(cè)儀器

標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室配置以下核心設(shè)備組：

精密干涉儀組：4D Technology動(dòng)態(tài)干涉儀（精度λ/100）、Zygo Verifire MST多波長(zhǎng)干涉系統(tǒng)

光譜分析系統(tǒng)

微觀形貌分析組

力學(xué)環(huán)境設(shè)備組

潔凈度測(cè)試組

輔助計(jì)量設(shè)備組

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件