中析研究所檢測中心
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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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成分分析,配方還原,食品檢測,藥品檢測,化妝品檢測,環(huán)境檢測,性能檢測,耐熱性檢測,安全性能檢測,水質(zhì)檢測,氣體檢測,工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測,橡膠檢測,金屬元素檢測,礦石檢測,有毒有害檢測,土壤檢測,msds報告編寫等。
發(fā)布時間：2025-05-13
關(guān)鍵詞：老化測試座性能檢測周期,老化測試座性能檢測案例,老化測試座性能檢測機構(gòu)
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來源：北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。
老化測試座的核心檢測項目包含六大關(guān)鍵指標(biāo)：接觸電阻穩(wěn)定性驗證（DC 10mA-1A）、絕緣電阻衰減測試（500VDC）、介電強度驗證（AC 1500V/1min）、機械耐久性評估（5000次插拔循環(huán)）、溫濕度交變試驗（-55℃~125℃/95%RH）、鹽霧腐蝕試驗（5%NaCl/48h）。其中接觸阻抗波動值需控制在±5mΩ范圍內(nèi)，插拔力衰減率不得超過初始值的15%。
特殊應(yīng)用場景需增加氣密性檢測（氦質(zhì)譜檢漏≤1×10-9 Pa·m3/s）與高頻特性驗證（40GHz VSWR≤1.5）。針對大電流連接器需執(zhí)行100A連續(xù)載流試驗（ΔT≤30K），高密度連接器須通過0.35mm間距的絕緣耐壓測試。
本檢測體系適用于各類金屬合金（磷青銅/鈹銅/鎳鈦合金）及工程塑料（LCP/PPS/PEI）材質(zhì)的測試插座。涵蓋DIP/SOP/QFP/BGA等封裝接口類型，支持0.4mm~2.54mm間距規(guī)格檢測。特殊場景包含：
高溫老化座（MAX 200℃持續(xù)工作）
高頻測試座（40GHz信號完整性）
大電流治具（100A持續(xù)載流能力）
微間距適配器（0.35mm pitch精度）
適用領(lǐng)域包括半導(dǎo)體晶圓測試、汽車電子模塊驗證、5G通信設(shè)備老化試驗等工業(yè)場景。
接觸電阻測量采用四線法Kelvin連接方式，在DC 100mA測試電流下采集1000次插拔循環(huán)數(shù)據(jù)。絕緣電阻測試使用高阻計施加500V DC電壓持續(xù)60秒記錄泄漏電流值。機械壽命試驗通過伺服電機驅(qū)動實現(xiàn)每分鐘30次的標(biāo)準(zhǔn)插拔動作。
環(huán)境可靠性測試執(zhí)行JESD22-A104標(biāo)準(zhǔn)：85℃/85%RH條件下進(jìn)行1000小時濕熱老化；溫度循環(huán)按-55℃(30min)→125℃(30min)進(jìn)行500次循環(huán)沖擊。高頻特性采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行S參數(shù)測量（1MHz-40GHz），時域反射計分析阻抗連續(xù)性。
| 設(shè)備類型 | 技術(shù)參數(shù) | 符合標(biāo)準(zhǔn) |
|---|---|---|
| 接觸電阻測試儀 | 量程1μΩ-2Ω/精度±0.5% | EIA-364-23 |
| 高低溫試驗箱 | -70℃~+200℃/±0.5℃ | IEC 60068-2-1 |
| 插拔壽命試驗機 | 50N軸向力/0.01mm位移分辨率 | EIA-364-09 |
| 絕緣耐壓測試儀 | AC 5kV/DC 6kV ±1% | UL 94V-0 |
| 三維形貌儀 | 0.1μm垂直分辨率 | ISO 4287 |
關(guān)鍵設(shè)備需定期通過NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)件進(jìn)行計量校準(zhǔn)：接觸電阻標(biāo)準(zhǔn)片（SRM 2223）、溫度傳感器（PT100 Class AA）、力值傳感器（HBM U9B）等計量器具的校準(zhǔn)周期不超過12個月。
1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品，安排費用后進(jìn)行樣品檢測
6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認(rèn)信息是否無誤
7、確認(rèn)完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件
