微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-19
關(guān)鍵詞:壓電陶瓷性能試驗(yàn)儀器,壓電陶瓷性能檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),壓電陶瓷性能檢測(cè)范圍
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
壓電常數(shù)(d33/d31):表征單位電場(chǎng)產(chǎn)生的應(yīng)變量或單位應(yīng)力產(chǎn)生的電荷量
介電性能:介電常數(shù)(εr)、介電損耗(tanδ)及溫度特性
機(jī)電耦合系數(shù)(kp/kt):反映機(jī)械能與電能轉(zhuǎn)換效率
彈性參數(shù):楊氏模量(Y)、泊松比(ν)及機(jī)械品質(zhì)因數(shù)(Qm)
居里溫度(Tc):材料失去壓電性的臨界溫度點(diǎn)
頻率響應(yīng)特性:諧振頻率(fr)與反諧振頻率(fa)
老化特性:時(shí)間穩(wěn)定性與溫度循環(huán)耐受性
材料類型:鋯鈦酸鉛(PZT)、鈮酸鋰(LiNbO3)、鈦酸鋇(BaTiO3)基陶瓷
應(yīng)用領(lǐng)域:超聲換能器、壓電傳感器、精密驅(qū)動(dòng)器、能量收集裝置
產(chǎn)品形態(tài):塊體陶瓷、多層疊堆結(jié)構(gòu)、薄膜材料及異形器件
極化狀態(tài):縱向極化、徑向極化及復(fù)雜極化模式樣品
環(huán)境適應(yīng)性:高溫/低溫/濕度條件下的性能變化規(guī)律
失效分析:斷裂韌性測(cè)試與疲勞壽命評(píng)估
準(zhǔn)靜態(tài)法:采用Berlincourt型d33測(cè)量?jī)x施加低頻交變力場(chǎng)(0.1-200Hz)測(cè)定壓電常數(shù)
動(dòng)態(tài)法:通過(guò)諧振/反諧振頻率計(jì)算kt/kp
阻抗分析法:使用LCR表測(cè)量1kHz-1MHz頻段的εr/tanδ參數(shù)
激光干涉法:非接觸式測(cè)量微位移響應(yīng)曲線與諧波失真度
Sawyer-Tower電路法:測(cè)定鐵電材料的極化-電場(chǎng)(P-E)回線特性
熱重分析法(TGA):結(jié)合DSC確定居里溫度與相變過(guò)程
三點(diǎn)彎曲試驗(yàn):依據(jù)ASTMC1161評(píng)估斷裂強(qiáng)度與彈性模量
SEM/EDS聯(lián)用技術(shù):微觀結(jié)構(gòu)表征與元素分布分析
阻抗分析儀(Agilent4294A):頻率范圍40Hz-110MHz,支持自動(dòng)諧振點(diǎn)掃描功能
準(zhǔn)靜態(tài)d33測(cè)試儀(ZJ-3A型):量程2000pC/N,分辨率0.1pC/N
激光多普勒測(cè)振儀(PolytecPSV-500):位移分辨率0.01pm,頻響范圍DC-25MHz
高溫介電測(cè)試系統(tǒng)(NovocontrolConcept80):-150℃~400℃溫控精度0.1℃
鐵電測(cè)試系統(tǒng)(RadiantPrecisionPremierII):10kV高壓輸出與μs級(jí)響應(yīng)速度
動(dòng)態(tài)力學(xué)分析儀(TAQ800):應(yīng)變分辨率1nm,支持多頻動(dòng)態(tài)載荷測(cè)試
X射線衍射儀(BrukerD8Advance):Cu靶Kα輻射源,角度重復(fù)性0.0001
掃描電子顯微鏡(HitachiSU5000):二次電子分辨率1.0nm@15kV
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件