因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

Ra（算術(shù)平均偏差）、Rz（最大高度）、Rq（均方根偏差）、Rt（總高度）、Rp（最大峰高）、Rv（最大谷深）、Rsk（偏斜度）、Rku（陡度）、Rsm（輪廓單元平均寬度）、Rmr（輪廓支承長(zhǎng)度率）、Rc（輪廓谷深）、Rdq（動(dòng)態(tài)摩擦系數(shù)）、Rδc（相對(duì)支承長(zhǎng)度）、Rλq（均方根波長(zhǎng)）、RΔq（均方根斜率）、Rlo（油膜保持性參數(shù)）、Rpc（峰計(jì)數(shù)）、Rk（核心粗糙度深度）、Mr1（材料率1區(qū)）、Mr2（材料率2區(qū)）、Vo（油囊體積）、Rvk（縮減的谷深）、Rpk（縮減的峰高）、Wt（波紋度總高度）、Wa（波紋度算術(shù)平均值）、Wz（波紋度最大高度）、Pc（峰密度）、Str（表面紋理方向度）、Sal（自相關(guān)長(zhǎng)度）、Sdr（界面擴(kuò)展比

檢測(cè)范圍

精密軸承滾道面、發(fā)動(dòng)機(jī)缸體內(nèi)壁、液壓閥芯配合面、光學(xué)透鏡拋光面、半導(dǎo)體晶圓切割面、渦輪葉片氣動(dòng)表面、模具型腔工作面、齒輪嚙合齒面、活塞環(huán)外圓面、導(dǎo)軌滑動(dòng)面、密封端面、刀具切削刃口、軸類零件配合面、法蘭密封槽底、醫(yī)療器械植入表面、PCB板銅箔層、3D打印成型面、金屬軋輥工作面、陶瓷基板研磨面、復(fù)合材料層壓界面、橡膠密封件接觸面、螺紋牙型工作面、電鍍層截面輪廓、激光熔覆層表面、磁頭浮動(dòng)面、微機(jī)電系統(tǒng)組件表面、人工關(guān)節(jié)球面、太陽(yáng)能電池硅片表面、燃料電池雙極板流道面

檢測(cè)方法

觸針式輪廓法：通過(guò)金剛石探針機(jī)械掃描表面輪廓，適用于Ra0.01-10μm范圍的精密測(cè)量。

白光干涉法：利用光學(xué)干涉原理重建三維形貌，分辨率達(dá)納米級(jí)，適合超光滑表面分析。

激光散射法：基于光散射強(qiáng)度與表面粗糙度的相關(guān)性實(shí)現(xiàn)非接觸測(cè)量。

原子力顯微鏡：原子級(jí)分辨率的三維形貌測(cè)量技術(shù)，適用于納米級(jí)粗糙度表征。

共聚焦顯微鏡：通過(guò)光學(xué)切片技術(shù)獲取高精度三維表面數(shù)據(jù)。

數(shù)字全息術(shù)：利用激光全息記錄與重建實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)表面形貌測(cè)量。

電容式測(cè)量法：基于極距變化引起的電容值變化推算表面粗糙度。

超聲波反射法：通過(guò)聲波反射特性分析評(píng)估大尺寸工件表面狀態(tài)。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ISO4287:1997《幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu):輪廓法術(shù)語(yǔ),定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)》
ISO4288:1996《幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu):輪廓法評(píng)定表面結(jié)構(gòu)的規(guī)則和方法》
GB/T1031-2009《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法表面粗糙度參數(shù)及其數(shù)值》
ASMEB46.1-2019《表面紋理(表面粗糙度,波紋度和鋪紋)》
DINENISO25178-2:2012《幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)-表面結(jié)構(gòu):區(qū)域-第2部分:術(shù)語(yǔ),定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)》
JISB0601:2013《產(chǎn)品幾何特性規(guī)范(GPS)-表面結(jié)構(gòu):輪廓法-術(shù)語(yǔ),定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)》
ASTMD7127-13《用觸針式儀器測(cè)量涂層表面粗糙度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》
ISO13565-2:1996《幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu):輪廓法具有分層功能特性的表面第2部分:用線性材料比率曲線表示的高度特性》
GB/T12472-2003《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法木制件表面粗糙度參數(shù)及其數(shù)值》
ISO21920-2:2021《幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu):輪廓法第2部分:術(shù)語(yǔ),定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)》

檢測(cè)儀器

接觸式輪廓儀：配備金剛石探針的精密機(jī)械掃描系統(tǒng)，典型分辨率0.8nm垂直/0.1μm水平。

白光干涉三維形貌儀：采用LED寬光譜光源實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)垂直分辨率。

激光共聚焦顯微鏡：具備405nm激光光源與壓電陶瓷掃描臺(tái)的空間分辨能力達(dá)120nm。

原子力顯微鏡(AFM)：懸臂探針與光杠桿系統(tǒng)組合實(shí)現(xiàn)原子級(jí)三維成像。

便攜式粗糙度計(jì)：集成加速度補(bǔ)償?shù)默F(xiàn)場(chǎng)測(cè)量設(shè)備，符合IP65防護(hù)等級(jí)。

三維光學(xué)輪廓儀：基于相移干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)0.01nm垂直分辨率的大視場(chǎng)測(cè)量。

工業(yè)內(nèi)窺鏡測(cè)量系統(tǒng)：配備微型探針的管道內(nèi)壁專用檢測(cè)裝置。

多傳感器測(cè)量平臺(tái)：集成接觸式與非接觸式探頭的復(fù)合測(cè)量系統(tǒng)。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件