因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

稀土總量測(cè)定、單質(zhì)硅含量分析、鑭元素定量、鈰元素定量、鐠元素定量、釹元素定量、釤元素定量、銪元素定量、釓元素定量、鋱?jiān)囟俊㈢C元素定量、鈥元素定量、鉺元素定量、銩元素定量、鐿元素定量、镥元素定量、鐵雜質(zhì)測(cè)定、鋁雜質(zhì)測(cè)定、鈣雜質(zhì)測(cè)定、鎂雜質(zhì)測(cè)定、鈦雜質(zhì)測(cè)定、錳雜質(zhì)測(cè)定、磷雜質(zhì)測(cè)定、硫雜質(zhì)測(cè)定、碳雜質(zhì)測(cè)定、氧含量分析、氮含量分析、氫含量分析、密度測(cè)試、熔點(diǎn)測(cè)試、熱膨脹系數(shù)測(cè)定

檢測(cè)范圍

稀土硅鐵合金錠塊、稀土硅鋇合金粉末、釹鐵硼永磁材料前驅(qū)體、金屬硅提純中間體、光伏級(jí)多晶硅原料、半導(dǎo)體晶圓切割廢料回收物、核反應(yīng)堆控制棒材料樣品、高溫合金鑄造母材觸媒顆粒催化劑載體材料樣品儲(chǔ)氫合金電極片磁性流體基材激光晶體生長(zhǎng)原料光纖預(yù)制棒摻雜劑電子封裝焊料濺射靶材廢料再生料冶金脫氧劑鑄造孕育劑耐蝕涂層粉末3D打印金屬粉末核磁共振造影劑原料航天器熱防護(hù)涂層材料

檢測(cè)方法

X射線(xiàn)熒光光譜法（XRF）：通過(guò)特征X射線(xiàn)強(qiáng)度進(jìn)行多元素同步快速定性定量分析電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）：采用四級(jí)桿質(zhì)量分析器實(shí)現(xiàn)ppb級(jí)痕量元素精確測(cè)定惰性氣體熔融紅外法：利用脈沖加熱爐分解樣品后紅外探測(cè)氧氮?dú)錃怏w含量高頻燃燒紅外吸收法：通過(guò)高頻感應(yīng)爐燃燒樣品測(cè)定碳硫元素濃度原子吸收光譜法（AAS）：基于原子蒸氣對(duì)特征譜線(xiàn)的吸收進(jìn)行單元素定量分析輝光放電質(zhì)譜法（GD-MS）：適用于高純材料表面及體相雜質(zhì)深度剖析掃描電子顯微鏡-能譜聯(lián)用（SEM-EDS）：進(jìn)行微區(qū)成分分布及夾雜物形貌表征差示掃描量熱法（DSC）：精確測(cè)定材料相變溫度及熱力學(xué)參數(shù)激光粒度分析法：采用米氏散射原理測(cè)量粉末樣品粒徑分布庫(kù)侖滴定法：通過(guò)電化學(xué)氧化還原反應(yīng)確定特定元素當(dāng)量濃度

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T16484.21-2009氯化稀土化學(xué)分析方法二氧化硅量的測(cè)定ISO2355:2018鎂合金中稀土元素的測(cè)定電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法ASTME1915-2011用波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜法分析金屬及礦石的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法JISH1697:2015釹鐵合金中硅含量的測(cè)定方法YS/T1075-2015稀土金屬及其氧化物中非稀土雜質(zhì)化學(xué)分析方法GB/T13747.24-2020鋯及鋯合金化學(xué)分析方法第24部分：硅含量的測(cè)定ISO14720-1:2013陶瓷原料中硫的測(cè)定第1部分：紅外吸收法EN10179:2018鋼中氮含量的測(cè)定光譜分析法GB/T223.85-2020鋼鐵及合金硫含量的測(cè)定感應(yīng)爐燃燒紅外吸收法ASTMD6349-2013使用直接燃燒紅外探測(cè)法測(cè)定煤中總硫的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

檢測(cè)儀器

波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀：配備Rh靶X光管和五通道晶體分光系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)0.001%檢出限高分辨電感耦合等離子體質(zhì)譜儀：配置碰撞反應(yīng)池技術(shù)消除多原子離子干擾脈沖加熱惰性氣體熔融儀：集成雙通道紅外池同步測(cè)量氧氮?dú)淙厝詣?dòng)碳硫分析儀：采用高頻感應(yīng)爐配合NDIR探測(cè)器完成ppm級(jí)碳硫測(cè)試場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：配備超薄窗口能譜探頭實(shí)現(xiàn)0.1μm空間分辨率成分分析激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)：與ICP-MS聯(lián)用完成固體樣品原位微區(qū)分析微波消解工作站：采用高壓密閉消解罐處理難溶稀土化合物樣品動(dòng)態(tài)光散射粒度儀：配備532nm激光源測(cè)量納米級(jí)顆粒分散體系同步熱分析儀：同步采集TG-DSC信號(hào)研究材料熱穩(wěn)定性輝光放電質(zhì)譜儀：配備射頻源實(shí)現(xiàn)導(dǎo)體/非導(dǎo)體材料的深度剖析

檢測(cè)流程

1、咨詢(xún)：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件