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成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。

ASTMD523光澤度標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)

發(fā)布時(shí)間：2025-05-06

關(guān)鍵詞：ASTMD523光澤度標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)機(jī)構(gòu),ASTMD523光澤度標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)范圍,ASTMD523光澤度標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)方法

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來源：北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所

文章簡(jiǎn)介：

ASTMD523是由美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)制定的鏡面光澤度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)方法，廣泛應(yīng)用于涂料、塑料、金屬等材料的表面光學(xué)特性評(píng)估。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了20°、60°、85°三種測(cè)量角度的技術(shù)要求與操作規(guī)范，重點(diǎn)涉及儀器校準(zhǔn)、樣品制備及數(shù)據(jù)精度控制等核心環(huán)節(jié)，為工業(yè)品控與科研分析提供權(quán)威檢測(cè)依據(jù)。
點(diǎn)擊咨詢

因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

ASTM D523標(biāo)準(zhǔn)主要包含以下關(guān)鍵檢測(cè)項(xiàng)目：

鏡面光澤度的幾何光學(xué)測(cè)量

20°角高光澤表面測(cè)量（適用于反射率＞70GU的材料）

60°角通用型測(cè)量（適用于10-70GU的中等光澤材料）

85°角低光澤表面測(cè)量（適用于＜10GU的啞光材料）

儀器校準(zhǔn)驗(yàn)證與誤差分析

樣品表面平整度與清潔度要求

環(huán)境溫濕度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響評(píng)估

檢測(cè)范圍

本標(biāo)準(zhǔn)的適用對(duì)象包括但不限于：

材料類別：有機(jī)涂層、塑料制品、金屬鍍層、陶瓷釉面、紙張覆膜等

工業(yè)領(lǐng)域：汽車涂裝（保險(xiǎn)杠/車身）、家電外殼（冰箱/洗衣機(jī)）、消費(fèi)電子（手機(jī)/筆記本）、建筑裝飾（鋁塑板/玻璃幕墻）

質(zhì)量控制節(jié)點(diǎn)：新產(chǎn)品研發(fā)驗(yàn)證、生產(chǎn)批次一致性檢驗(yàn)、老化試驗(yàn)前后對(duì)比、工藝參數(shù)優(yōu)化評(píng)估

排除范圍：曲面半徑＜200mm的弧面樣品、具有明顯紋理或凹凸的表面（粗糙度Ra＞6.3μm）、各向異性反光材料

檢測(cè)方法

依據(jù)ASTM D523-14(2018)最新修訂版規(guī)定的主要操作流程：

樣品制備：將待測(cè)材料切割為≥50×50mm的平整試樣，表面無(wú)可見劃痕或污染。多層材料需靜置24小時(shí)消除內(nèi)應(yīng)力。

儀器校準(zhǔn)：使用NIST可溯源的標(biāo)準(zhǔn)板進(jìn)行三點(diǎn)校準(zhǔn)（高/中/低光澤），校準(zhǔn)偏差應(yīng)＜1.5GU。

角度選擇：根據(jù)預(yù)估光澤值選擇測(cè)量角度：＞70GU用20°，10-70GU用60°，＜10GU用85°。

測(cè)量操作：將試樣穩(wěn)定放置在測(cè)試孔位，確保入射光斑完全覆蓋被測(cè)區(qū)域。每個(gè)樣品取5個(gè)不同位置測(cè)量。

數(shù)據(jù)記錄：記錄各點(diǎn)測(cè)量值的算術(shù)平均值及最大偏差值，當(dāng)相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差＞5%時(shí)需重新測(cè)試。

環(huán)境控制：實(shí)驗(yàn)室溫度應(yīng)保持在23±2℃，相對(duì)濕度50±5%，避免強(qiáng)磁場(chǎng)和振動(dòng)干擾。

檢測(cè)儀器

符合ASTM D523要求的正規(guī)光澤度計(jì)應(yīng)具備以下技術(shù)特征：

幾何結(jié)構(gòu)：入射光路與接收光路嚴(yán)格滿足θ-θ幾何配置（入射角=反射角）

光源系統(tǒng)：CIE標(biāo)準(zhǔn)C光源或D65光源，光譜范圍380-780nm全波段覆蓋

光學(xué)傳感器：硅光電二極管陣列探測(cè)器，線性響應(yīng)范圍0-2000GU

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件

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關(guān)鍵參數(shù)技術(shù)要求
測(cè)量重復(fù)性

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