中析研究所檢測中心
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中科光析科學技術(shù)研究所
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成分分析,配方還原,食品檢測,藥品檢測,化妝品檢測,環(huán)境檢測,性能檢測,耐熱性檢測,安全性能檢測,水質(zhì)檢測,氣體檢測,工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測,橡膠檢測,金屬元素檢測,礦石檢測,有毒有害檢測,土壤檢測,msds報告編寫等。
發(fā)布時間：2025-05-08
關(guān)鍵詞：熱膨脹系數(shù)實驗檢測標準,熱膨脹系數(shù)實驗檢測范圍,熱膨脹系數(shù)實驗試驗儀器
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來源：北京中科光析科學技術(shù)研究所
因業(yè)務調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。
熱膨脹系數(shù)實驗主要包含以下核心檢測指標：
線性熱膨脹系數(shù)（α）：表征材料單位溫度變化引起的長度變化率，適用于各向同性材料的軸向變形測量
體積熱膨脹系數(shù)（β）：反映材料三維體積隨溫度變化的比率關(guān)系，需通過α值進行β=3α的理論換算
相變溫度點測定：記錄材料發(fā)生晶體結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變時的臨界溫度及對應的膨脹突變值
各向異性分析：針對單晶/復合材料進行多軸向膨脹差異測試
滯后效應測試：評估升降溫循環(huán)過程中的膨脹曲線重合度
| 材料類別 | 典型樣品尺寸 | 溫度范圍 | 精度要求 |
|---|---|---|---|
| 金屬及合金 | Φ6×25mm圓柱體 | -170~1200℃ | ±0.1×10??/℃ |
| 陶瓷材料 | 5×5×25mm長方體 | RT~1600℃ | ±0.05×10??/℃ |
| 高分子材料 | 10×10×4mm薄片 | -60~300℃ | ±0.5×10??/℃ |
| 復合材料 | 按纖維取向定制 | -196~800℃ | ±0.2×10??/℃ |
| 玻璃制品 | Φ4×20mm棒材 | RT~800℃ | ±0.1×10??/℃ |
采用石英探頭接觸式測量原理：將試樣置于程序控溫爐內(nèi)，通過高精度位移傳感器（分辨率達0.1nm）記錄探頭位移量。測試需滿足ASTM E831標準規(guī)定的0.5℃/min溫變速率控制要求。
基于Michelson干涉原理的非接觸測量技術(shù)：利用氦氖激光器（波長632.8nm）構(gòu)建光學干涉系統(tǒng)，通過條紋移動數(shù)計算試樣長度變化量。該方法符合ISO 17562標準對超低膨脹材料的測試要求。
采用雙望遠鏡系統(tǒng)進行高溫測量：通過CCD成像系統(tǒng)捕捉試樣端面位置變化，配合藍寶石視窗實現(xiàn)最高2300℃的極端環(huán)境測試。
通過晶格常數(shù)測定間接計算膨脹系數(shù)：使用CuKα輻射源（λ=1.5406?）進行θ-2θ掃描，依據(jù)布拉格方程計算晶面間距變化。
熱機械分析儀（TMA）
位移分辨率：≤0.1μm
溫度控制精度：±0.1℃
最大載荷范圍：0.01-1000mN
激光干涉膨脹儀
波長穩(wěn)定性：＜2ppm/h
位移分辨率：＜1nm
真空度：≤5×10?3Pa
高溫光學膨脹儀
最高溫度：2300℃（惰性氣氛）
圖像采樣率：100Hz
標距測量誤差：±0.01%FS
低溫測試系統(tǒng)
制冷方式：液氮閉環(huán)冷卻
最低溫度：-269℃（4K）
溫度均勻性：±0.5K@100K以下
原位X射線衍射儀
角度重復性：±0.0001°
高溫附件溫度范圍：RT-1600℃
真空度：≤1×10??Pa
1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件
