微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-12
關(guān)鍵詞:瓷磚成分檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),瓷磚成分檢測(cè)方法,瓷磚成分檢測(cè)案例
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
瓷磚成分檢測(cè)體系包含五大核心模塊:
化學(xué)成分分析:測(cè)定SiO2(45-75%)、Al2O3(15-25%)、Fe2O3(≤1.5%)等主要氧化物含量
放射性核素檢測(cè):依據(jù)GB 6566測(cè)定鐳-226(≤35 Bq/kg)、釷-232(≤35 Bq/kg)、鉀-40(≤400 Bq/kg)活度指數(shù)
物理性能測(cè)試:包含吸水率(Ⅰ類≤0.5%、Ⅲ類>10%)、破壞強(qiáng)度(≥1300N)、線性熱膨脹系數(shù)(6.0×10-6/℃)等指標(biāo)
微觀結(jié)構(gòu)分析:通過(guò)SEM-EDS觀測(cè)晶相結(jié)構(gòu)(莫來(lái)石相占比≥60%)、氣孔率(≤0.5%)及晶界分布特征
有害物質(zhì)限量:鉛(≤75mg/kg)、鎘(≤50mg/kg)等重金屬可溶出量符合GB 31604.1標(biāo)準(zhǔn)
分類維度 | 具體類型 | 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) |
---|---|---|
材質(zhì)類別 | 炻瓷磚(BⅠa類) | ISO 13006 Annex G |
細(xì)炻磚(BⅡb類) | EN 14411:2016 | |
陶質(zhì)磚(BⅢ類) | ASTM C242-20 | |
應(yīng)用場(chǎng)景 | 室內(nèi)地磚(R10-R13級(jí)) | DIN 51130:2014 |
外墻干掛系統(tǒng)用磚 | JGJ 133-2001 | |
泳池專用防滑磚 | ISO 10545-17:2016 | |
實(shí)驗(yàn)室耐腐蝕磚 | ISO 13006 Annex H | |
特殊功能型產(chǎn)品需增加抗菌性能(ISO 22196:2011)、防靜電特性(SJ/T 11294-2018)等專項(xiàng)檢測(cè) |
X射線熒光光譜法(XRF)
采用波長(zhǎng)色散型光譜儀(WDXRF),依據(jù)GB/T 30707-2014標(biāo)準(zhǔn)對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)損快速分析。測(cè)試條件設(shè)定為Rh靶材、50kV管電壓、60mA電流,通過(guò)FP法計(jì)算元素氧化物含量。
伽馬能譜法
使用HPGe探測(cè)器配合鉛屏蔽室進(jìn)行放射性核素測(cè)定。樣品經(jīng)粉碎過(guò)篩(粒徑<0.16mm)后裝入Marinelli杯,累積測(cè)量時(shí)間≥8h,參照EJ/T 1117-2000進(jìn)行數(shù)據(jù)校正。
電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)
按GB/T 23991-2009制備酸性浸提液(0.07mol/L HCl),采用徑向觀測(cè)模式測(cè)定Cd、Pb等重金屬元素。儀器參數(shù)設(shè)定為RF功率1350W,霧化氣流速0.7L/min。
材料試驗(yàn)系統(tǒng)法
使用電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)執(zhí)行三點(diǎn)彎曲試驗(yàn)。依據(jù)ISO 10545-4:2019設(shè)定跨距L=200mm±1mm,加載速率1mm/min±0.2mm/min至試樣斷裂。
掃描電子顯微鏡法(SEM)
樣品經(jīng)噴金處理后置于場(chǎng)發(fā)射電鏡觀察斷面形貌。工作電壓15kV,放大倍數(shù)5000×~20000×,配合能譜儀進(jìn)行微區(qū)成分分析。
型號(hào)例:Rigaku ZSX Primus IV
檢出限:1ppm~100%
符合標(biāo)準(zhǔn):JIS K 0119-2017
型號(hào)例:Canberra GC4020
能量分辨率:≤1.8keV@1332keV
符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 11713-2015
型號(hào)例:PerkinElmer Avio 500
線性范圍:0.001~1000mg/L
符合標(biāo)準(zhǔn):ISO 11885:2007
型號(hào)例:Instron 5967
載荷容量:50kN
精度等級(jí):0.5級(jí)
符合標(biāo)準(zhǔn):ASTM E4-21
型號(hào)例:Hitachi SU5000
分辨率:1.0nm@15kV
放大倍數(shù):20×~800,000×
符合標(biāo)準(zhǔn):ISO 16700:2016
>型號(hào)例:Malvern Mastersizer3000<
> 測(cè)量范圍:0.01~3500μm<
> 符合標(biāo)準(zhǔn):ISO13320:2020/p>>
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件