因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

氧化鋯成分檢測涵蓋以下核心指標(biāo)：

主成分分析：ZrO?含量測定（包含穩(wěn)定劑Y?O?或MgO的配比驗證）

雜質(zhì)元素檢測：Al?O?、SiO?、Fe?O?等金屬/非金屬雜質(zhì)定量分析

相組成分析：單斜相（m-ZrO?）、四方相（t-ZrO?）、立方相（c-ZrO?）比例測定

物理特性關(guān)聯(lián)參數(shù)：晶粒尺寸分布、孔隙率與化學(xué)成分的相關(guān)性驗證

痕量元素篩查：U、Th等放射性元素及重金屬元素限量檢測

檢測范圍

本檢測適用于以下材料類型：

原料粉末：高純氧化鋯粉體（3Y-TZP/5Y-TZP等）、穩(wěn)定化處理前驅(qū)體

成型制品：結(jié)構(gòu)陶瓷件（軸承球、切削刀具）、功能陶瓷（氧傳感器、固體電解質(zhì)）

復(fù)合材料：ZrO?增韌Al?O?（ZTA）、金屬-陶瓷復(fù)合涂層

特殊形態(tài)材料：納米氧化鋯分散液、多孔陶瓷支架、單晶纖維

工業(yè)中間體：燒結(jié)前素坯、等離子噴涂用喂料顆粒

檢測方法

依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)與行業(yè)規(guī)范執(zhí)行以下分析方法：

X射線熒光光譜法（XRF）：GB/T 30904-2014測定主量元素含量，精度達(dá)±0.5wt%

電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）：ISO 11885:2007實現(xiàn)ppb級微量元素定量

X射線衍射分析法（XRD）：ASTM D5380-14進(jìn)行物相定量分析（Rietveld精修法）

激光粒度分析法（LPSA）：ISO 13320:2020表征粉末粒徑分布特征

熱重-差示掃描量熱聯(lián)用法（TG-DSC）：JIS K7120評估材料熱穩(wěn)定性與相變溫度

電子探針顯微分析（EPMA）：GB/T 15074-2017完成微區(qū)成分面分布掃描

檢測儀器

標(biāo)準(zhǔn)實驗室配置以下正規(guī)設(shè)備：

波長色散XRF光譜儀：配備Rh靶X光管（4kW），可測元素范圍B~U

全譜直讀ICP-OES系統(tǒng)：軸向觀測模式配合CID檢測器，檢出限≤1ppb

多功能X射線衍射儀：Cu-Kα輻射源（45kV/40mA），配備高溫附件（-190~1600℃）

場發(fā)射掃描電鏡-能譜聯(lián)用系統(tǒng)（FE-SEM/EDS）：分辨率≤1nm，面分析精度±0.1at%

同步熱分析儀（STA）：TG-DSC同步測量模塊，控溫精度±0.1℃/min

激光粒度分析儀：干濕法雙模式測量范圍10nm~3500μm

微波消解工作站：高壓密閉消解系統(tǒng)（300℃/199bar），滿足難溶樣品前處理需求

輝光放電質(zhì)譜儀（GD-MS）：實現(xiàn)ppb級痕量雜質(zhì)全元素掃描分析

拉曼光譜儀（Raman）：532nm/785nm雙激光源配置，用于相變過程原位監(jiān)測

高溫原位XRD附件系統(tǒng)：最高工作溫度1600℃，實時記錄相組成演變過程

動態(tài)圖像粒度儀（DIA）：ISO 13322-2標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證的顆粒形貌同步分析設(shè)備

全自動比表面及孔隙度分析儀（BET）：多點BET法測定納米粉體比表面積（0.01~3000m2/g）

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進(jìn)行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件