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發(fā)布時間:2025-04-16
關(guān)鍵詞:電磁兼容性測試
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來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
電磁兼容性(Electromagnetic Compatibility, EMC)是衡量電子設(shè)備在電磁環(huán)境中正常工作且不對其他設(shè)備產(chǎn)生干擾的能力。隨著電子設(shè)備的廣泛應(yīng)用,電磁干擾問題日益突出,EMC測試成為保障設(shè)備可靠性和安全性的重要手段。其核心目標(biāo)包括兩方面:一是設(shè)備自身應(yīng)具備足夠的抗干擾能力(抗擾度);二是設(shè)備運(yùn)行時產(chǎn)生的電磁發(fā)射需符合標(biāo)準(zhǔn)要求(發(fā)射限值)。
輻射發(fā)射測試(Radiated Emission) 該測試用于評估設(shè)備通過空間傳播的電磁波是否超出限值。測試頻率通常覆蓋30 MHz至6 GHz,通過天線接收信號后分析頻譜特性。主要針對無線通信設(shè)備、家電及工業(yè)控制設(shè)備等。
傳導(dǎo)發(fā)射測試(Conducted Emission) 檢測設(shè)備通過電源線或信號線傳導(dǎo)的電磁噪聲。測試頻段為150 kHz至30 MHz,需使用人工電源網(wǎng)絡(luò)(LISN)隔離待測設(shè)備與電網(wǎng),確保測量準(zhǔn)確性。
靜電放電抗擾度測試(ESD) 模擬人體或物體靜電放電對設(shè)備的影響。測試電壓可達(dá)±8 kV(接觸放電)或±15 kV(空氣放電),用于驗證手機(jī)、電腦等消費(fèi)類電子產(chǎn)品的抗靜電能力。
電快速瞬變脈沖群抗擾度測試(EFT/Burst) 模擬電網(wǎng)開關(guān)操作引起的瞬態(tài)干擾,通過耦合鉗向電源線或信號線注入高頻脈沖群(5 kHz重復(fù)頻率),測試設(shè)備在強(qiáng)干擾下的穩(wěn)定性。
浪涌抗擾度測試(Surge) 評估設(shè)備對雷擊或電網(wǎng)突變引起的浪涌電壓的耐受能力。測試波形為1.2/50 μs(電壓波)和8/20 μs(電流波),常見于電力系統(tǒng)及通信基站設(shè)備。
射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試(CS) 模擬外界射頻場通過線纜耦合進(jìn)入設(shè)備的干擾,頻率范圍為150 kHz至80 MHz,測試時需使用電流鉗或電磁場發(fā)生器。
電壓暫降與中斷抗擾度測試(Dips & Interruptions) 驗證設(shè)備在電網(wǎng)電壓波動或短時斷電情況下的運(yùn)行穩(wěn)定性,適用于工業(yè)自動化設(shè)備及醫(yī)療儀器。
EMC測試廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域:
國際標(biāo)準(zhǔn)
國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)
行業(yè)專用標(biāo)準(zhǔn)
輻射發(fā)射測試
傳導(dǎo)發(fā)射測試
靜電放電測試
浪涌抗擾度測試
電磁兼容性測試貫穿電子產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)和認(rèn)證全周期,是保障設(shè)備可靠性與市場準(zhǔn)入的核心環(huán)節(jié)。隨著5G、物聯(lián)網(wǎng)等技術(shù)的普及,EMC測試需求將持續(xù)增長,推動測試標(biāo)準(zhǔn)與方法的迭代升級。企業(yè)需結(jié)合產(chǎn)品特性選擇適用標(biāo)準(zhǔn),并借助正規(guī)實驗室資源,高效完成合規(guī)性驗證。