因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

光譜響應(yīng)測(cè)試、光通量衰減試驗(yàn)、溫度循環(huán)測(cè)試、濕熱交變?cè)囼?yàn)、鹽霧腐蝕測(cè)試、紫外老化試驗(yàn)、振動(dòng)耐久性測(cè)試、沖擊強(qiáng)度驗(yàn)證、高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)、氣壓適應(yīng)性測(cè)試、粉塵防護(hù)等級(jí)測(cè)定、防水密封性檢驗(yàn)、光斑均勻性分析、偏振特性評(píng)估、折射率穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)、色溫漂移測(cè)試、發(fā)光效率衰減率測(cè)定、光功率輸出穩(wěn)定性驗(yàn)證、材料黃變指數(shù)分析、涂層附著力測(cè)試、光纖拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)、透鏡透射率測(cè)量、激光器閾值電流漂移檢測(cè)、光電轉(zhuǎn)換效率驗(yàn)證、封裝氣密性測(cè)試、熱阻系數(shù)計(jì)算、光波長(zhǎng)偏移量監(jiān)測(cè)、輻射耐受性評(píng)估、電磁兼容性測(cè)試、材料熱膨脹系數(shù)測(cè)定

檢測(cè)范圍

激光二極管模塊、光纖通信器件、LED照明模組、光電傳感器陣列、光學(xué)鍍膜鏡片、紅外熱成像儀核心組件、激光雷達(dá)收發(fā)單元、光伏電池板封裝體、光纖放大器模塊、顯微物鏡組裝配件、光譜分析儀探頭組件、激光切割機(jī)光學(xué)系統(tǒng)、投影儀DMD芯片組、天文望遠(yuǎn)鏡鏡面涂層材料、醫(yī)用內(nèi)窺鏡光纖束組件、工業(yè)相機(jī)CMOS感光元件安防監(jiān)控紅外濾光片組件汽車激光大燈模組航天器太陽(yáng)敏感器組件量子通信單光子探測(cè)器高精度干涉儀反射鏡組光纖陀螺儀核心部件紫外固化燈發(fā)光單元激光焊接機(jī)聚焦系統(tǒng)X射線光學(xué)準(zhǔn)直器組件熒光分析儀激發(fā)光源模塊衛(wèi)星光通信終端組件光刻機(jī)物鏡系統(tǒng)深海探測(cè)光學(xué)窗口組件

檢測(cè)方法

光譜分析法：采用分光光度計(jì)測(cè)量器件在400-1100nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)的透射/反射特性曲線
光強(qiáng)分布測(cè)試：使用積分球配合光度探頭記錄光源空間照度分布均勻度
溫度沖擊試驗(yàn)：通過(guò)三箱式冷熱沖擊設(shè)備實(shí)現(xiàn)-40℃至+125℃的快速溫變循環(huán)測(cè)試
鹽霧腐蝕試驗(yàn)：依據(jù)中性鹽霧標(biāo)準(zhǔn)在35℃環(huán)境下持續(xù)噴霧96小時(shí)評(píng)估表面腐蝕情況
振動(dòng)頻譜分析：采用電磁振動(dòng)臺(tái)施加10-2000Hz隨機(jī)振動(dòng)并監(jiān)測(cè)光信號(hào)傳輸穩(wěn)定性
氣密性氦檢法：使用質(zhì)譜檢漏儀在加壓氦氣環(huán)境中檢測(cè)封裝器件的微米級(jí)泄漏率
偏振消光比測(cè)量：通過(guò)旋轉(zhuǎn)偏振片結(jié)合功率計(jì)計(jì)算光學(xué)器件的偏振保持能力
加速老化試驗(yàn)：在85℃/85%RH雙85條件下進(jìn)行1000小時(shí)持續(xù)老化觀察性能衰減曲線
熱阻特性分析：采用瞬態(tài)熱測(cè)試法測(cè)量激光器結(jié)溫與散熱基板間的熱傳導(dǎo)效率
EMC輻射測(cè)試：在電波暗室中監(jiān)測(cè)光學(xué)設(shè)備工作時(shí)30MHz-6GHz頻段的電磁輻射強(qiáng)度

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化
IEC60068-2-14:2009環(huán)境試驗(yàn)第2-14部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化
ISO9022-9:2016光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：太陽(yáng)輻射與風(fēng)化
MIL-STD-810H:2019環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法
JESD22-A104E:2020溫度循環(huán)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T4208-2017外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）
IEC61300-2-48:2009光纖互連器件試驗(yàn)方法第2-48部分：耐溶劑和污染液體試驗(yàn)
ASTMG154-16非金屬材料紫外線暴露的熒光裝置操作標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
GB/T2423.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧
EN60529:1991+A2:2013外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)儀器

光譜分析儀：配備InGaAs探測(cè)器的寬譜段（200-1700nm）測(cè)量系統(tǒng)，分辨率達(dá)0.1nm
恒溫恒濕試驗(yàn)箱：溫度范圍-70℃~+180℃，濕度控制精度2%RH的程控環(huán)境模擬設(shè)備
積分球光度測(cè)量系統(tǒng)：直徑2米的BaSO4涂層球體配合高精度光電倍增管陣列
三軸振動(dòng)臺(tái)系統(tǒng)：最大加速度100g，頻率范圍DC-3000Hz的多自由度振動(dòng)激勵(lì)平臺(tái)
氙燈老化箱：配備340nm紫外濾光片的太陽(yáng)輻射模擬裝置，輻照度控制精度0.1W/m
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檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件