因業(yè)務調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

礦物組成分析、主量元素測定、微量元素測定、稀土元素配分模式、鉑族元素豐度、揮發(fā)性元素含量、氧逸度計算、硫化物物相鑒定、硅酸鹽熔體包裹體成分、水含量及賦存狀態(tài)、氫同位素比值(δD)、碳同位素比值(δC)、氧同位素比值(δ?O)、氮同位素比值(δ?N)、硫同位素比值(δ?S)、氦-氖-氬稀有氣體豐度與同位素、宇宙成因核素(如?Be,?Al,?Cl)、放射成因同位素定年(U-Pb,Sm-Nd,Rb-Sr,K-Ar)、太陽風注入成分表征、磁性礦物矯頑力譜分析、納米鐵顆粒豐度統(tǒng)計、玻璃質(zhì)相比例測定、沖擊變質(zhì)特征識別、空間風化產(chǎn)物厚度測量、反射光譜特性(0.3-3μm)、熱釋光特性曲線、介電常數(shù)測定、密度與孔隙率計算、抗壓強度測試、微觀形貌三維重構(gòu)

檢測范圍

月球玄武巖巖屑、高地斜長巖碎塊、克里普巖(KREEP)顆粒、月壤細粒組分(<1mm)、角礫巖膠結(jié)物、隕硫鐵結(jié)核體、火山玻璃珠、沖擊熔融玻璃球粒、太陽風輻照表層顆粒(<100nm深度)、月海鈦鐵礦富集區(qū)樣品、輝石橄欖巖包體、斜長石單礦物解理面、輝石環(huán)帶結(jié)構(gòu)剖面、鈦鐵礦出溶片晶區(qū)域、隕石坑濺射物層序剖面模擬樣、模擬月壤標準物質(zhì)(JSC-1A,CAS-1)、阿波羅計劃月巖鉆孔巖芯(100XX系列)、月球隕石(如NWA5000,Dhofar025)、火星隕石(SNC族,如ALH84001)、灶神星HED族隕石(如Juvinas)、碳質(zhì)球粒隕石(CI,CM型)、頑輝石球粒隕石(EC)、小行星Itokawa粒子(隼鳥號返回樣)、彗星塵埃(星塵號采集Wild2樣)、星際塵埃收集器捕獲顆粒

檢測方法

X射線衍射(XRD)用于全巖礦物半定量分析及晶體結(jié)構(gòu)精修，依據(jù)布拉格衍射角解析物相組成。

電子探針顯微分析儀(EPMA)實現(xiàn)微米尺度主量元素面分布制圖，采用波長色散譜儀(WDS)確保Na-U元素定量精度優(yōu)于1%。

激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜(LA-ICP-MS)對薄片樣品進行原位微量元素分析，空間分辨率達10μm，檢出限低至ppb級。

二次離子質(zhì)譜(SIMS)進行亞微米級同位素成像，通過O?/Cs?一次束轟擊獲取H-C-O-S同位素深度剖面數(shù)據(jù)。

稀有氣體質(zhì)譜儀(NGMS)采用分步加熱技術釋放捕獲氣體，通過磁扇型質(zhì)譜計測定He/Ne/Ar/Kr/Xe同位素組成。

透射電子顯微鏡(TEM)結(jié)合選區(qū)電子衍射(SAED)解析納米級空間風化產(chǎn)物晶體結(jié)構(gòu)特征。

傅里葉變換紅外光譜(FTIR)測定結(jié)構(gòu)水含量及賦存狀態(tài)，依據(jù)3400cm?吸收峰強度定量羥基濃度。

加速器質(zhì)譜(AMS)分析宇宙成因核素豐度，通過電荷剝離與粒子鑒別技術實現(xiàn)?Be/?Al等高靈敏度測量。

穆斯堡爾譜儀測定鐵價態(tài)分布及磁性相比例，利用γ射線共振吸收原理識別納米級單質(zhì)鐵顆粒。

聚焦離子束-掃描電鏡(FIB-SEM)聯(lián)用系統(tǒng)制備微區(qū)透射樣品并重構(gòu)三維孔隙網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)。

檢測標準

ISO23420:2021微束分析-電子探針顯微分析(EPMA)-術語與規(guī)范

ASTME1587-17激光燒蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜法(LA-ICP-MS)標準測試方法

GB/T17412.1-2012巖石分類和命名方案火成巖分類

ISO20565-3:2008含鉻耐火材料化學分析-X射線熒光光譜法測定主成分

JJG2096-2017同位素豐度測量質(zhì)譜儀檢定規(guī)程

ASTMD7928-21使用TGA-FTIR聯(lián)用技術測定材料中揮發(fā)物的標準方法

GB/T14506.30-2010硅酸鹽巖石化學分析方法X射線熒光光譜法測定主次量元素

ISO18589-4:2019環(huán)境放射性測量-土壤中放射性核素的γ能譜分析方法

ASTME3061-17掃描電子顯微鏡操作的標準指南

GB/T36082-2018納米技術納米粉體材料測試參考物質(zhì)規(guī)范

檢測儀器

場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)配備能譜儀(EDS)，實現(xiàn)亞微米級形貌觀察與元素定性定量分析，工作電壓范圍0.1-30kV可調(diào)。

高分辨率透射電子顯微鏡(HRTEM)配備球差校正器，點分辨率達0.07nm，用于觀察空間風化非晶層原子排列特征。

多接收器電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(MC-ICP-MS)采用法拉第杯與離子計數(shù)器陣列，實現(xiàn)Sr/Nd/Hf/Pb等同位素比值高精度測定（內(nèi)部精度<0.001%）。

納米二次離子探針(NanoSIMS)具備50nm空間分辨率與ppm級檢出限，可同步獲取7種元素面分布圖像。

顯微共焦拉曼光譜儀配置532nm/785nm雙激光源，光譜分辨率1cm?，用于原位鑒定礦物相及碳質(zhì)物結(jié)構(gòu)特征。

高真空步進加熱稀有氣體質(zhì)譜系統(tǒng)配備全金屬提取線，本底值低至10??ccSTPHe，溫度控制范圍25-1800℃。

飛秒激光剝蝕系統(tǒng)耦合TOF-ICP-MS，脈沖寬度<150fs實現(xiàn)近無分餾剝蝕，適用于揮發(fā)性元素（如Cl,S）的原位分析。

同步輻射X射線熒光微探針(SR-XRF)利用第三代光源的高通量特性，實現(xiàn)ppb級微量元素二維分布制圖。

振動樣品磁強計(VSM)配備10K-1000K變溫系統(tǒng)與3T磁場強度模塊，用于表征月壤亞鐵磁性特征。

顯微傅里葉變換紅外光譜(Micro-FTIR)配置液氮冷卻MCT探測器與15倍物鏡，空間分辨率達5μm適用于單顆粒分析。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件