因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、六價鉻(Cr6+)、多溴聯(lián)苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)、鄰苯二甲酸酯(DEHP)、鄰苯二甲酸酯(DBP)、鄰苯二甲酸酯(BBP)、鄰苯二甲酸酯(DIDP)、鄰苯二甲酸酯(DNOP)、鄰苯二甲酸酯(DINP)、砷(As)、銻(Sb)、鎳(Ni)、鈷(Co)、銅(Cu)、鋅(Zn)、錫(Sn)、鋇(Ba)、硒(Se)、鈹(Be)、鉍(Bi)、鉈(Tl)、釩(V)、錳(Mn)、鐵(Fe)、鋁(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl)、溴(Br)、碘(I)

檢測范圍

電子元器件、印刷電路板(PCB)基材、塑料外殼部件、金屬合金涂層材料、油漆涂料層狀物樣品樣本標(biāo)本試件試樣測試品檢驗品分析品實驗品研究品產(chǎn)品品項物料材料物品對象實體實物實例案例應(yīng)用場景領(lǐng)域范疇類型種類形式狀態(tài)表面內(nèi)部整體局部區(qū)域點位位置部位結(jié)構(gòu)組成成分元素化合物混合物純物質(zhì)合成物天然物人工物工業(yè)品消費品日用品玩具部件家具材料汽車零件電池組件陶瓷制品玻璃容器橡膠密封件紡織品纖維皮革制品包裝材料建筑材料土壤沉積物水樣液體固體粉末顆粒薄膜薄片厚板塊狀圓柱球形不規(guī)則形狀

檢測方法

X射線熒光（XRF）檢測基于元素特征X射線發(fā)射原理實現(xiàn)限用物質(zhì)篩查。該方法使用高能X射線源激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生次級熒光輻射能量色散型分析儀捕獲并解析光譜信號通過能量色散X射線熒光光譜法ED-XRF或波長色散型WD-XRF系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)處理ED-XRF采用半導(dǎo)體探測器直接測量光子能量適用于快速現(xiàn)場篩查操作簡便便攜式設(shè)備可實時顯示元素濃度分布WD-XRF利用晶體分光器分離波長提供更高分辨率精度適合實驗室精密分析校準(zhǔn)過程需使用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)SRM建立工作曲線確保定量準(zhǔn)確性樣品制備包括表面清潔干燥均質(zhì)化處理避免污染干擾對于非均質(zhì)材料需多點掃描或研磨制樣方法局限性包括對輕元素靈敏度較低表面分析深度有限需結(jié)合其他技術(shù)驗證結(jié)果應(yīng)用場景涵蓋RoHS指令REACH法規(guī)等合規(guī)性評估流程

檢測標(biāo)準(zhǔn)

IEC62321-1:2013Electrotechnicalproducts-Determinationoflevelsofsixregulatedsubstances
EN71-3:2019Safetyoftoys-Part3:Migrationofcertainelements
ASTME1621-22StandardPracticeforX-RayEmissionSpectrometricAnalysis
GB/T26125-2011Electricalandelectronicproducts-Determinationofsixregulatedsubstances
ISO17054:2010RoutinemethodforanalysisofhighalloysteelbyX-rayfluorescencespectrometry
JISK0119:2018GeneralrulesforX-rayfluorescencespectrometricanalysis
EPAMethod6200FieldportableX-rayfluorescencespectrometryforthedeterminationofelementalconcentrationsinsoilandsediment
BSENISO3497:2000Metalliccoatings-Measurementofcoatingthickness-X-rayspectrometricmethods
GB/T23991-2009Determinationofleadcadmiummercurychromiumincoatings
SN/T2004.1-2005Determinationofleadcadmiummercurychromiuminelectronicinformationproducts

檢測儀器

手持式X射線熒光分析儀適用于現(xiàn)場快速篩查操作便攜輕便內(nèi)置電池供電可實時顯示元素濃度圖譜典型應(yīng)用包括電子廢棄物分類和工業(yè)品抽檢臺式能量色散型ED-XRF光譜儀配備高分辨率探測器支持實驗室精確分析具備自動樣品臺和多點掃描功能用于復(fù)雜材料如合金和塑料的定量評估波長色散型WD-XRF系統(tǒng)采用晶體分光器提供超低檢出限適用于痕量元素如砷和汞的合規(guī)性驗證儀器校準(zhǔn)需定期使用認證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)確保數(shù)據(jù)可靠性維護涉及光源冷卻和探測器清潔常見品牌設(shè)備包括ThermoScientificNiton系列和OlympusVanta系列應(yīng)用領(lǐng)域覆蓋環(huán)境監(jiān)測產(chǎn)品質(zhì)量控制和法規(guī)符合性測試

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件